制備超細(xì)化、納米化粉體材料是現(xiàn)代研究和生產(chǎn)的趨勢

超細(xì)化、納米化是現(xiàn)代粉體材料研究和生產(chǎn)的趨勢，為滿足對這些材料的粒度分析，激光粒度儀的測量范圍也向超細(xì)化、納米化方向發(fā)展。

所以現(xiàn)代高性能的激光粒度儀的測量下限已經(jīng)達(dá)到 20nm 甚至10nm，而樣品折射率（包括吸收率）是一個重要條件，如果折射率錯誤，將導(dǎo)致粒度測試結(jié)果錯誤。隨著新材料、合成材料以及混合材料越來越多用常規(guī)手段測試這些材料的折射率很困難，這是粒度測試遇到的難題。

為解決這個難題，高性能激光粒度儀測量樣品折射率的方法，在粒度測試前先測量折射率和吸收率，保證了對新材料粒度測試的準(zhǔn)確性，收到了很好的效果。